專業(yè)生產(chǎn)銷售電路板故障測(cè)試儀;電路在線測(cè)試儀;IC測(cè)試儀;電路板故障測(cè)試儀;線路板維修儀;電路板維修儀;線路板維修測(cè)試儀;集成電路維修測(cè)試儀;變頻器維修測(cè)試儀;紡織電路板維修測(cè)試儀;工控電路板維修測(cè)試儀;電路在線維修測(cè)試儀
已有多年的電路維修測(cè)試儀研制生產(chǎn)、銷售服務(wù)、推廣應(yīng)用的歷史。電路在線維修測(cè)試儀是一種通用的電路板故障測(cè)試儀,可以的幫助維修工程師快速在線檢測(cè)出各種損壞型電路板的故障,將故障定位到集成電路、元件或電路結(jié)點(diǎn)或端口上. 專注于電路在線維修測(cè)試儀的研發(fā)、生產(chǎn)、推廣應(yīng)用的專業(yè)化企業(yè)。自上世紀(jì)九十年代初推出國(guó)內(nèi)最早的電路在線維修測(cè)試儀以來(lái),產(chǎn)品已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域的電路板維修。尤其在進(jìn)口大型自動(dòng)化設(shè)備的電子電路板的維修中,起到了其它維修檢測(cè)儀器無(wú)法替代的作用。 電路維修測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,集成電路測(cè)試儀,電路板維修測(cè)試儀,電路板測(cè)試儀電路板故障測(cè)試儀,電路在線測(cè)試儀,IC測(cè)試儀,電路板故障測(cè)試儀,線路板維修儀,電路板維修儀,線路板維修測(cè)試儀,集成電路維修測(cè)試儀,變頻器維修測(cè)試儀,紡織電路板維修測(cè)試儀,工控電路板維修測(cè)試儀,電路在線維修測(cè)試儀
電路在線維修測(cè)試儀是一種通用的電路板故障檢測(cè)設(shè)備,能夠的幫助我們?cè)诰檢測(cè)各種類型的電路板;并將故障定位到集成電路、元件、端口或電路結(jié)點(diǎn)上;系統(tǒng)集成了通用器件的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù),直接輸入器件型號(hào)即可進(jìn)行器件功能以及性能測(cè)試。借助了電路在線維修測(cè)試儀,可以大大改善工作效率,提高故障檢出率,讓維修工作真正做到更、更快捷、更。 于工業(yè)電路板測(cè)試與維修領(lǐng)域,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于航天電力、軍事裝備、通信醫(yī)療、鐵路造船、冶金石化、紡織印刷等行業(yè)的電路板維修業(yè)務(wù)中,已經(jīng)成為維修電路板最的檢測(cè)儀器。對(duì)于解決在電路板故障檢測(cè)中遇到的各種問(wèn)題,都起到了傳統(tǒng)維修工具無(wú)法替代的作用。電路板故障在線檢測(cè)儀----維修電路板最理想的測(cè)試工具......
[主要測(cè)試參數(shù)]1 電源電流+Icc1、-Icc1、Icc22 內(nèi)部參考電壓Vref3 失調(diào)電壓Zero4 增益誤差Gain5 線性誤差Linearity6 微分線性誤差Differential7 電源電壓靈敏度dFSV1+、dFSV1-、dFSV2+8 管腳參數(shù)Iil、Iih、Voh、Vol[主要技術(shù)指標(biāo)]1)測(cè)壓指標(biāo):測(cè)量量程 精度±(5.0V~10.2V) ±(0.025%Rdg+472uV)±(2.5V~5.0V) ±(0.025%Rdg+236uV)±(<2.5V) ±(0.025%Rdg+196uV)2)測(cè)流指標(biāo)(2.5mA~5.1mA)FSR ±(0.05%Rdg+236nA)(1.25mA~2.5mA)FSR ±(0.05%Rdg+118 nA)(<1.25mA)FSR ±(0.05%Rdg+98 nA)
產(chǎn)品特點(diǎn): |
· 器件好壞判別:當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí),儀器可判斷其好壞。 · 器件型號(hào)判別:當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí),儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷 其型號(hào)。 · 器件老化測(cè)試:當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí),儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 · 器件代換查詢:儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致,引腳排列一致的器件型號(hào)。 · 電壓調(diào)節(jié)選擇:3V、5V、9V、15V。 · 內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改:ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 · EPROM、EEPROM器件讀入:ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器 件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。 · EPROM、EEPROM器件寫入:ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K 以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。 · 新增RS232接口,與PC通訊,互送資料。 |
技術(shù)規(guī)格:(可測(cè)1300種) |
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產(chǎn)品名稱 | 數(shù)字集成電路測(cè)試儀 |
產(chǎn)品型號(hào) | YB3116A |
相似型號(hào) | |
商 標(biāo) | 綠揚(yáng) |
技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) | |
認(rèn)證種類 | |
價(jià) 格 | 4600元 |
交貨方式 | |
生產(chǎn)廠商 | 江蘇綠揚(yáng)電子儀器集團(tuán)有限公司 |
產(chǎn)品說(shuō)明 | 可測(cè)試TTL54/74,55/75,4000,45系列,常用RAM,EPROM/CPU接口電路/光電耦合器件等 |
備 注 |
1.工作原理: ICT33C+集成電路測(cè)試儀是以器件預(yù)期響應(yīng)法為指導(dǎo)思想,以單片機(jī)智能化為結(jié)構(gòu)的多功能測(cè)試儀器。它以MCS51單片機(jī)為核心,配合大規(guī)模軟件和擴(kuò)展系統(tǒng)來(lái)模擬被測(cè)器件的綜合功能。儀器的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)立足于這樣的原則:在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中,邏輯功能是最重要,最根本,最能說(shuō)明問(wèn)題的參數(shù)。
最大測(cè)試管腳:192腳
測(cè)試適用范圍:
元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)(附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾)
測(cè)試原理(v-i曲線測(cè)試):
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào),產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖,以備對(duì)比和存儲(chǔ)。被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì),阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?筛鶕(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
集成電路測(cè)試儀操作如此簡(jiǎn)單:
1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).2.將集成電路插入測(cè)試座.3.執(zhí)行測(cè)試4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.
商品輸入檢驗(yàn)
不需要電子專業(yè)知識(shí).適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板靈活、好安裝、宜操作.測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告.集成電路測(cè)試儀 適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)-小型封裝集成集成電路(SOIC)-小型封裝(SSOP, TSOP)-塑料無(wú)引線芯片載體封裝(PLCC)-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)-球門陣列封裝(BGA)注意: SENTRY不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊。測(cè)試通道
標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。升級(jí)模塊:64通道 可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。
用兩種模式掃瞄:
一般模式: 掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上。矩陣模式: 掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上。
通用型PLCC轉(zhuǎn)接器(用于測(cè)試有20~84腳的PLCC封裝)
數(shù)據(jù)庫(kù)
用戶可根據(jù)自己的需要,用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù),以備日后測(cè)試使用。創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試庫(kù)僅需要數(shù)秒的操作時(shí)間,操作十分簡(jiǎn)單容易。結(jié)果比較型式:將數(shù)據(jù)庫(kù)中的IC與待測(cè)ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測(cè)IC的好壞,提供兩種比較型式:與數(shù)據(jù)庫(kù)中元件比較: 被測(cè)IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫(kù)中的相同型號(hào)的IC比較被測(cè)IC之間比較比較: 多個(gè)集成電路的之間的V-I曲線相比較。軟件- 靈活性
1)軟件提供測(cè)試庫(kù)圖形化修改功能,以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測(cè)試庫(kù), 2)軟件可以自定義各個(gè)通道的使用,一臺(tái)機(jī)器可以同時(shí)檢測(cè)多個(gè)器件報(bào)告
1)軟件可產(chǎn)生一詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告, 包含集成電路相片。這份報(bào)告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。2)用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動(dòng)態(tài)阻抗圖可儲(chǔ)存在pc中,并可隨時(shí)讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。3)為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。
針。≒inPrint)動(dòng)態(tài)阻抗詳細(xì)分析元件的管腳.
定制化的報(bào)告(PinPrint).
轉(zhuǎn)接器
1)標(biāo)準(zhǔn)型:
用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。
標(biāo)準(zhǔn)SOIC轉(zhuǎn)接器
通用型:
用于SOIC及PLCC封裝; 一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測(cè)試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。
一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于測(cè)試寬0.15”~0.6”達(dá)44腳的集成電路。
客制型:
可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請(qǐng)進(jìn)一步洽詢, 以設(shè)計(jì)符合您需求的轉(zhuǎn)接器。
BGA插座轉(zhuǎn)接器
技術(shù)規(guī)格
掃描測(cè)試波形 | 正弦波,鋸齒波,三角波 |
掃描測(cè)試頻率 | 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz |
掃描電壓(Vs) | 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進(jìn)0.1V |
掃描源電阻(Rs) | 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ |
掃描通道 | AT128通道數(shù)量:128通道(已停產(chǎn)) AT192通道數(shù)量:192通道 AT256通道數(shù)量:256通道 顯示模式:VI曲線圖 掃描模式:手動(dòng)或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù) |
掃瞄模式 | 一般模式:掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上. 矩陣模式:掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上. |
電腦連接 | USB 連接電腦使用,標(biāo)準(zhǔn)配置含上位機(jī)軟件 |
適合不同封裝形式元件: | 適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳(DIL) -小型封裝集成集成電路(SOIC) -小型封裝(SSOP, TSOP) -塑料無(wú)引線芯片載體封裝(PLCC) -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP) -球門陣列封裝(BGA) 注意: SENTRY不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊及電路板。 |
測(cè)試報(bào)告 | 可自行編輯測(cè)試報(bào)告 |
功率需求 | 線路電壓:85~264VAC 頻率:47~63Hz 功率:最大150W |
尺寸/重量 | 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg |
操作溫度.濕度 | 溫度:10°C~30°C濕度: 20~80% RH。 |
保修期 | 一年 |
認(rèn)證 | CE認(rèn)證& RoHS合格。 |
計(jì)算機(jī)規(guī)格需求 | Microsoft Windows XP或Vista Pentium 4或更高 最小的RAM:512 MB 硬盤空間:200MB USB2.0高速傳輸 鼠標(biāo),鍵盤與屏幕 |
標(biāo)準(zhǔn)配件: | 用戶手冊(cè)。 USB導(dǎo)線。 軟件CD(含驅(qū)動(dòng)程序與操作手冊(cè))。 |
選購(gòu)配件: | 校正工具組。 各種轉(zhuǎn)接器。 |
儀器用途一
翻新及二手器件檢測(cè)
可由倉(cāng)庫(kù)部門在收到集成電路時(shí)進(jìn)行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識(shí)即可操作這個(gè)系統(tǒng)。檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測(cè)試數(shù)據(jù)。用戶可應(yīng)用完整的報(bào)告, 確定問(wèn)題的來(lái)源。翻新及二手器件檢測(cè)儀
能快速簡(jiǎn)單檢測(cè)出翻新IC及集成電路測(cè)試的解決方案。透過(guò)精密的PinPrint(針。y(cè)試算法則,能夠辨識(shí)出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒(méi)有結(jié)構(gòu), 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。他就像您的電子守衛(wèi), 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設(shè)備之入口, 不受偽造元器件之滲透?jìng)。何謂偽造翻新集成電路Counterfeit [koun-ter-fit](形容詞): 意思是仿造, 以便虛偽不實(shí)地假裝是真品。制造膺品(仿冒品)集成電路是非法的, 會(huì)出現(xiàn)(仿冒品)是因?yàn)殡娮恿慵目赊D(zhuǎn)讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔(dān)這個(gè)風(fēng)險(xiǎn), 也或許曾經(jīng)收到過(guò)大批的”不良”元器件。仿冒可透過(guò)各種過(guò)程達(dá)成: 在極不可靠的過(guò)程里, 把集成電路從報(bào)廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上, 包括制造廠商標(biāo), 然后拿來(lái)當(dāng)作真品賣給粗心的買家。另一個(gè)方法則是真的憑正規(guī)的制造能力, 在標(biāo)準(zhǔn)工時(shí)以外的大夜班(ghost shift)生產(chǎn)集成電路, 然而, 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒(méi)有硅片(silicon die)。很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)對(duì)完整的組裝進(jìn)行第一次測(cè)試時(shí), 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導(dǎo)致昂貴的過(guò)程-辨識(shí)問(wèn)題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠。5年來(lái), 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球貿(mào)易總額的8%以上, 相當(dāng)于損失60億的銷售額。
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