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其他產(chǎn)品及廠家

Dikablis眼動儀
世界上精度位列前茅的眼鏡式眼動儀:0.1~0.3°獨特工學(xué)設(shè)計,可以兼容眼鏡雙眼采集全高清場景攝像頭1920x1080p場景攝像頭豎向可調(diào)、眼部攝像頭萬向可調(diào)支持興趣區(qū)域自動分析配合功能強大的d-lab軟件,與其它d-lab模塊同步
更新時間:2025-05-09
D-LAB VIDEO行為觀察分析系統(tǒng)
d-lab video為您提供靈活的視頻記錄和編碼分析解決方案,允許您進行多路視頻記錄,完全不限制視頻通道數(shù)量。您可以使用帶云臺的和光學(xué)變焦的攝像頭進行視頻記錄,還可以使用更加便攜的usb網(wǎng)絡(luò)攝像頭,方便外場使用。
更新時間:2025-05-09
NE 無線腦電系統(tǒng)
產(chǎn)品描述:檢測結(jié)果可信賴精確檢測eeg腦電、eog眼電和emg皮電信號的無線傳輸腦電系統(tǒng),無需連接線纜簡單獲取高品質(zhì)的eeg信號一分鐘就可以開始檢測讓您的數(shù)據(jù)管理和可視化變得更簡單無論在什么地方什么時間,您都可以進行檢測允許干電極和濕電極靈活的二次開發(fā)工具輸出全部原始數(shù)據(jù)全套api支持您建立自己的應(yīng)用保
更新時間:2025-05-09
bel 便攜式腦電儀
bel one腦電系統(tǒng)是可以用于高清eeg和tes研究的新系列腦電系統(tǒng),將以可承受的成本帶來先進的技術(shù),以改變空間和時間分辨率的局限,從而改變?nèi)祟惿窠?jīng)生理學(xué)域的研究現(xiàn)狀。此系統(tǒng)支持40、130和280通道,bel one腦電系統(tǒng)將提供有效的分辨率和可重復(fù)性。
更新時間:2025-05-09
業(yè)運動測試跑臺
h/p/cosmos公司創(chuàng)建于1988年,在跑步機、運動訓(xùn)練及科研方面是先的家。其產(chǎn)品的耐用性、功能性、精確性和安全性受到健身者、運動員的信賴。 跑臺選用德國西門子高端電動機,十年保修,配件一年保修,多種加速度調(diào)節(jié)模式,適應(yīng)不同域的研究需要。
更新時間:2025-05-09
輪椅壓力監(jiān)測
該系統(tǒng)的用戶友好型軟件僅需少的培訓(xùn),即可提供簡單易讀的視覺結(jié)果和統(tǒng)計信息。先進的工具包括解剖標記、對稱性和 3d 視圖。臨床醫(yī)生可以為每個客戶設(shè)置文件,保存靜止圖像或壓力圖像視頻,然后通過電子郵件共享它們?梢灾苯釉谲浖猩蓤蟾。
更新時間:2025-05-09
桌面式眼動追蹤系統(tǒng)
系統(tǒng)采用先進的眼動追蹤算法,較為精密的硬件設(shè)計和較高質(zhì)量元器件,能夠確保數(shù)據(jù)的質(zhì)量和可重現(xiàn)性。這套眼動追蹤系統(tǒng)的準確度和精確度比較高,追蹤穩(wěn)定性較強,實現(xiàn)了對各類被試群體在真實研究環(huán)境中的廣泛兼容性。
更新時間:2025-05-09
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-05-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-05-09
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-05-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-05-09
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-05-09
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實會變差,這個當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-05-09
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。
更新時間:2025-05-09
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-05-09
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-05-09
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標準化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2025-05-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-05-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-05-09
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-05-09
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-05-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-05-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-05-09
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止狀態(tài)進入相應(yīng)模式需要的時序:
更新時間:2025-05-09
PSZRC-C三通道變壓器直流電阻測試儀
具有性能穩(wěn)定,測量迅速、體積小巧、使用方便、測量精度高,數(shù)據(jù)重復(fù)性好等特點。10a,20a三通道直流電阻測試儀是測量變壓器繞組以及大功率電感設(shè)備直流電阻的理想設(shè)備。三相測量適用于yn聯(lián)接的繞組,對于yn聯(lián)接的繞組由于聯(lián)接銅排電阻的影響,三相和單相測量結(jié)果會有所差異,建議使用單相測量。
更新時間:2025-05-09
PSSLQ載流機
產(chǎn)品視產(chǎn)品體積、重量采用分體/一體式結(jié)構(gòu),具有輸出電流無極調(diào)整,電流上升平衡、負荷變化范圍大、工作可靠、操作簡便、安全等特點。是工礦企業(yè)進行升流或溫升試驗較理想的設(shè)備。
更新時間:2025-05-09
PSFDB高壓放電棒
psfdb伸縮型高壓放電棒便于攜帶,方便、靈活,具有體積小、重量輕、安全可靠,是高電壓工作人員不可缺少的安全工具。
更新時間:2025-05-09
PSFRC交直流分壓器
電容器能有效地防止電阻表面泄漏,克服了對地的雜散電容的影響,從而提高了阻值,降低了直流測試電流,且線性好,該測量儀裝在一根絕緣套管內(nèi),且分壓比穩(wěn)定,體積小、重量輕的特點,便于試驗人員的攜帶到現(xiàn)場使用可以代替靜電電壓表,是發(fā)電廠,變電站以及輸變電設(shè)備所進行試驗電壓測量的必備測量設(shè)備。
更新時間:2025-05-09
高溫介電溫譜測量系統(tǒng)
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電法設(shè)計原理測量。并參考美國 a.s.t.m 標準。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的精確度,同時抗干擾能力更強。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電
更新時間:2025-05-09
高壓漏電起痕試驗儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達到或超g
更新時間:2025-05-09
耐漏電起痕試驗儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
漏電起痕指數(shù)CTI測試儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
高壓漏電檢測儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
耐電痕試驗儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
日本強力Kanetec高斯計TM-801EXP
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變,但是實現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標準測量器
更新時間:2025-05-09
GSC60CN多功能電氣安全電能質(zhì)量綜合分析儀,安規(guī)儀
原裝進口產(chǎn)品,觸摸屏操作簡單。由普通電池供電,方便操作現(xiàn)場更換,功能強大,可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流,無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時間:2025-05-09
金屬導(dǎo)體電阻率測試儀
加工定制:是類型:指針式電阻測量儀表品牌:yaos堯順型號:dx200ghd測量范圍:10-5--105ω(mω)電 源:220±10%測試電壓:2 mv、20 mv、200 mv、2v(v)精度:0.1%重量:8.5(kg)尺 寸:345mm*480mm*145mm規(guī)格:φ30x180
更新時間:2025-05-09
界面儀(智能化自校正)
北京正工電子科技有限責(zé)任公司是業(yè)從事油田石化行業(yè)的原油儲罐、分離罐、沉降罐、污水罐的油水界面、雙液位、物位測量智能化儀器儀表,油水含量分析儀表在線遠傳設(shè)備的研制、開發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司多年來依托自己雄厚的技術(shù)力量,本著嚴謹敬業(yè)、勤奮務(wù)實的工作作風(fēng),精心打造出一系列高精度、高性能、高質(zhì)量的物位、液位測量產(chǎn)品.
更新時間:2025-05-09
界面計(智能化自校正)
服務(wù)于油田大罐界面液位測量!
更新時間:2025-05-09
智能型焦油界面計
企業(yè)簡介:北京正工電子科技有限責(zé)任公司是專業(yè)從事油田石化行業(yè)的原油儲罐、分離罐、沉降罐、污水罐的油水界面、雙液位、物位測量智能化儀器儀表,油水含量分析儀表在線遠傳設(shè)備的研制、開發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司多年來依托自己雄厚的技術(shù)力量,本著嚴謹敬業(yè)、勤奮務(wù)實的工作作風(fēng),精心打造出一系列高精度、高性能、高質(zhì)量的物位、液位測量產(chǎn)品.口號:北京正工電子科技-油水界面測量專家!
更新時間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-05-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-05-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-05-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-05-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-05-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-05-09

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑