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d-lab video為您提供靈活的視頻記錄和編碼分析解決方案，允許您進行多路視頻記錄，完全不限制視頻通道數量。您可以使用帶云臺的和光學變焦的攝像頭進行視頻記錄，還可以使用更加便攜的usb網絡攝像頭，方便外場使用。
更新時間:2025-05-09
產品描述：檢測結果可信賴精確檢測eeg腦電、eog眼電和emg皮電信號的無線傳輸腦電系統，無需連接線纜簡單獲取高品質的eeg信號一分鐘就可以開始檢測讓您的數據管理和可視化變得更簡單無論在什么地方什么時間，您都可以進行檢測允許干電極和濕電極靈活的二次開發(fā)工具輸出全部原始數據全套api支持您建立自己的應用保
更新時間:2025-05-09
bel one腦電系統是可以用于高清eeg和tes研究的新系列腦電系統，將以可承受的成本帶來先進的技術，以改變空間和時間分辨率的局限，從而改變人類神經生理學域的研究現狀。此系統支持40、130和280通道，bel one腦電系統將提供有效的分辨率和可重復性。
更新時間:2025-05-09
h/p/cosmos公司創(chuàng)建于1988年，在跑步機、運動訓練及科研方面是先的家。其產品的耐用性、功能性、精確性和安全性受到健身者、運動員的信賴。 跑臺選用德國西門子高端電動機，十年保修，配件一年保修，多種加速度調節(jié)模式，適應不同域的研究需要。
更新時間:2025-05-09
該系統的用戶友好型軟件僅需少的培訓，即可提供簡單易讀的視覺結果和統計信息。先進的工具包括解剖標記、對稱性和 3d 視圖。臨床醫(yī)生可以為每個客戶設置文件，保存靜止圖像或壓力圖像視頻，然后通過電子郵件共享它們？梢灾苯釉谲浖猩蓤蟾。
更新時間:2025-05-09
系統采用先進的眼動追蹤算法，較為精密的硬件設計和較高質量元器件，能夠確保數據的質量和可重現性。這套眼動追蹤系統的準確度和精確度比較高，追蹤穩(wěn)定性較強，實現了對各類被試群體在真實研究環(huán)境中的廣泛兼容性。
更新時間:2025-05-09
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-05-09
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-05-09
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統是小端，不是大端系統。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-05-09
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-05-09
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-05-09
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-05-09
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-05-09
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-05-09
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-05-09
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-05-09
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-05-09
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-05-09
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-05-09
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-05-09
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-05-09
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-05-09
具有性能穩(wěn)定，測量迅速、體積小巧、使用方便、測量精度高，數據重復性好等特點。10a,20a三通道直流電阻測試儀是測量變壓器繞組以及大功率電感設備直流電阻的理想設備。三相測量適用于yn聯接的繞組，對于yn聯接的繞組由于聯接銅排電阻的影響，三相和單相測量結果會有所差異，建議使用單相測量。
更新時間:2025-05-09
產品視產品體積、重量采用分體/一體式結構，具有輸出電流無極調整，電流上升平衡、負荷變化范圍大、工作可靠、操作簡便、安全等特點。是工礦企業(yè)進行升流或溫升試驗較理想的設備。
更新時間:2025-05-09
電容器能有效地防止電阻表面泄漏，克服了對地的雜散電容的影響，從而提高了阻值，降低了直流測試電流，且線性好，該測量儀裝在一根絕緣套管內，且分壓比穩(wěn)定，體積小、重量輕的特點，便于試驗人員的攜帶到現場使用可以代替靜電電壓表，是發(fā)電廠，變電站以及輸變電設備所進行試驗電壓測量的必備測量設備。
更新時間:2025-05-09
高溫介電溫譜測試系統運用三電法設計原理測量。并參考美國 a.s.t.m 標準。重復性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數的精確度，同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。搭配labview系統開發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電
更新時間:2025-05-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超g
更新時間:2025-05-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-05-09
日本強力kanetec高斯計tm-801exp產品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變，但是實現了性能的大幅度提高！輕便型的新行業(yè)標準測量器
更新時間:2025-05-09
原裝進口產品，觸摸屏操作簡單。由普通電池供電，方便操作現場更換，功能強大，可以測量電能質量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流，無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數等
更新時間:2025-05-09
加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電 源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺 寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180
更新時間:2025-05-09
北京正工電子科技有限責任公司是業(yè)從事油田石化行業(yè)的原油儲罐、分離罐、沉降罐、污水罐的油水界面、雙液位、物位測量智能化儀器儀表,油水含量分析儀表在線遠傳設備的研制、開發(fā)、生產和銷售的高科技企業(yè)。公司多年來依托自己雄厚的技術力量，本著嚴謹敬業(yè)、勤奮務實的工作作風，精心打造出一系列高精度、高性能、高質量的物位、液位測量產品.
更新時間:2025-05-09
企業(yè)簡介：北京正工電子科技有限責任公司是專業(yè)從事油田石化行業(yè)的原油儲罐、分離罐、沉降罐、污水罐的油水界面、雙液位、物位測量智能化儀器儀表,油水含量分析儀表在線遠傳設備的研制、開發(fā)、生產和銷售的高科技企業(yè)。公司多年來依托自己雄厚的技術力量，本著嚴謹敬業(yè)、勤奮務實的工作作風，精心打造出一系列高精度、高性能、高質量的物位、液位測量產品.口號：北京正工電子科技-油水界面測量專家！
更新時間:2025-05-09
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-05-09
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-05-09
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-05-09
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統提交喚醒請求，使處理器系統重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-05-09
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-05-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-05-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-05-09
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-05-09
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-05-09
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-05-09
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